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前言：隨著電子產(chǎn)品數(shù)字化的普及，各國(guó)也開(kāi)始重視電磁干擾的問(wèn)題。在可預(yù)見(jiàn)的未來(lái)，大部分電子產(chǎn)品在上市之前都需要符合相關(guān)的EMI測(cè)試規(guī)格。然而，在EMI測(cè)試中，許多術(shù)語(yǔ)和方法缺乏詳細(xì)的解釋。本文針對(duì)在EMI測(cè)試中常遇到的一些問(wèn)題提供讀者參考。

一、EMI測(cè)試的準(zhǔn)確度要求是什么？

關(guān)于測(cè)試的準(zhǔn)確度，一般而言要求達(dá)到準(zhǔn)確。例如，用不同的秤來(lái)稱量一塊石頭，結(jié)果不會(huì)相差太大。然而，在EMI測(cè)試中，情況與一般的測(cè)量不同，同一個(gè)樣品在不同的測(cè)試場(chǎng)地可能得到非常不同的結(jié)果。