GB/T17799標準要求了電磁兼容EMC抗擾度和發(fā)射實驗要求適用于居住、商業(yè)和輕工業(yè)和工業(yè)環(huán)境中使用的化工電子設備。

GB/T17799標準適用于這些應用場景的器材進行電磁兼容測試：

居住場所、零售網(wǎng)點、商業(yè)樓宇、公共娛樂區(qū)、戶外場所、輕工業(yè)場所、工業(yè)設施、科學器材設備、醫(yī)療設施、大電感或大容性負載的設施、具備大功率伴有強磁場的設備等。

居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境中抗擾度試驗GB/T17799.1

（一）、外殼端口抗擾度試驗：

1、工頻磁場試驗：

磁場密度3A/m，性能判據(jù)A

2、射頻電磁場試驗:

測試頻率80MHz-1000MHz,場強3v/m,性能判據(jù)A

測試頻率1400MHz-2000MHz,場強3v/m,性能判據(jù)A

測試頻率2000MHz-2700MHz,場強1v/m,性能判據(jù)A

3、靜電放電試驗：

接觸放電±4kV,空氣放電±8kV,性能判據(jù)B

（二）、信號端口抗擾度試驗：

1、射頻共模試驗：

測試0.15MHz-80MHz,電壓10V,性能判據(jù)A

2、電迅速瞬變脈沖群試驗：

電壓±1kV,重復速率5kHz，性能判據(jù)B

（三）、直流輸入和直流輸出電源端口抗擾度試驗

1、射頻共模試驗：

測試0.15MHz-80MHz,電壓3V,性能判據(jù)A

2、浪涌試驗：

測試波形1.2/50us，線地間±0.5kV,線線間±0.5kV,性能判據(jù)B

3、快速瞬變脈沖群試驗：

電壓±0.5kV,重復速率5kHz，性能判據(jù)B

（四）、交流輸入和輸出端口抗擾度試驗

1、射頻共模：

測試0.15MHz-80MHz,電壓3V,性能判據(jù)A

2、電壓暫降：

0％，0.5個周期，性能判據(jù)B

0％，1個周期，性能判據(jù)B

70％，25個周期，性能判據(jù)C

3、電壓中斷試驗：

0％，250個周期，性能判據(jù)C

4、浪涌試驗：

測試波形1.2/50us，線地間±2kV,線線間±1kV,性能判據(jù)B

5、快速瞬變脈沖群試驗：

電壓±1kV,重復速率5kHz，性能判據(jù)B

一、工業(yè)環(huán)境中的抗擾度試驗GB/T17799.2

（一）、外殼端口抗擾度試驗：

1、工頻磁場試驗：

磁場強度30A/m，性能判據(jù)A

2、射頻電磁場試驗:

測試頻率80MHz-1000MHz,場強10v/m,性能判據(jù)A

3、靜電放電試驗：

接觸放電±4kV,空氣放電±8kV,性能判據(jù)B

（二）、信號端口抗擾度試驗：

1、射頻共模試驗：

測試0.15MHz-80MHz,電壓3V,性能判據(jù)A

2、電迅速瞬變脈沖群試驗：

電壓±0.5kV,重復速率5kHz，性能判據(jù)B

3、浪涌沖擊試驗：

測試波形1.2/50us，線地間±1kV,性能判據(jù)B

（三）、直流輸入和直流輸出電源端口抗擾度試驗

1、射頻共模試驗：

測試0.15MHz-80MHz,電壓10V,性能判據(jù)A

2、浪涌試驗：

測試波形1.2/50us，線地間±0.5kV,線線間±0.5kV,性能判據(jù)B

3、快速瞬變脈沖群試驗：

電壓±2kV,重復速率5kHz，性能判據(jù)B

（四）、交流輸入和輸出端口抗擾度試驗

1、射頻共模：

測試0.15MHz-80MHz,電壓10V,性能判據(jù)A

2、電壓暫降：

30％，0.5個周期，性能判據(jù)B

60％，5個周期，性能判據(jù)C

60％，50個周期，性能判據(jù)C

3、電壓中斷試驗：

＞95％，250個周期，性能判據(jù)C

4、浪涌試驗：

測試波形1.2/50us，線地間±2kV,線線間±1kV,性能判據(jù)B

5、快速瞬變脈沖群試驗：

電壓±2kV,重復速率5kHz，性能判據(jù)B

二、居住、商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境中發(fā)射試驗GB/T17799.3

（一）、外殼端口發(fā)射實驗

測試頻率30MHz-230MHz,準峰值30dB

測試頻率230MHz-1000MHz,準峰值37dB

測試頻率1GHz-3GHz,峰值70dB，平均值50dB(測量距離3m)

測試頻率3GHz-6GHz,峰值74dB，平均值54dB(測量距離3m)

（二）、直流電源端口發(fā)射試驗

測試頻率0.15MHz-0.5MHz,準峰值79dB，平均值66dB

測試頻率0.5MHz-30MHz,準峰值73dB，平均值60dB

三、工業(yè)環(huán)境中的發(fā)射實驗GB/T17799.4

（一）、外殼端口發(fā)射實驗

測試頻率30MHz-230MHz,準峰值40dB

測試頻率230MHz-1000MHz,準峰值47dB

測試頻率1GHz-3GHz,峰值76dB，平均值56dB(測量距離3m)

測試頻率3GHz-6GHz,峰值80dB，平均值60dB(測量距離3m)

（二）、低壓交流電源端口發(fā)射實驗

測試頻率0.15MHz-0.5MHz,準峰值79dB，平均值66dB

測試頻率0.5MHz-30MHz,準峰值73dB，平均值60dB

四、GB/T17799標準電磁兼容測試性能判據(jù)

性能判據(jù)A

在試驗過后和試驗期間，設備應按預定模式連續(xù)工作。

性能判據(jù)B

在試驗期間，設備應按預定模式連續(xù)工作。

性能判據(jù)C

允許暫時失去用途，只要這些功用可自行修復以及借助操作控制器來修復。

五、引用的基礎標準：

靜電放電抗擾度試驗GB/T17626.2-2018

射頻電磁場輻射抗擾度試驗GB/T17626.3-2016

電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗GB/T17626.4-2018

浪涌（沖擊）抗擾度試驗GB/T17626.5-2019

射頻場感應的傳導騷擾抗擾度GB/T17626.6-2017

工頻磁場抗擾度試驗GB/T17626.8-2006

電壓暫降、短時中止和電壓差異的抗擾度試驗GB/T17626.11-2008

信息科技設施的無線電騷擾限值和檢測方式GB/T9254-2008