EMI測(cè)試項(xiàng)目包括傳導(dǎo)干擾（CE）、輻射干擾（RE）、諧波干擾等。EMS測(cè)試項(xiàng)目包括傳導(dǎo)靈敏度（CS）、輻射靈敏度（RS）、靜電放電（ESD）、浪涌（Surge）、電壓跌落測(cè)試（DIP）等。

輻射干擾測(cè)試主要是針對(duì)射頻干擾進(jìn)行的，傳導(dǎo)干擾測(cè)試則是通過(guò)將高頻強(qiáng)脈沖串行輸入電源線來(lái)進(jìn)行的。靜電放電測(cè)試則是針對(duì)空氣和物體接觸引起的放電現(xiàn)象進(jìn)行的，例如對(duì)屏幕或鍵盤(pán)進(jìn)行放電測(cè)試。而電壓跌落測(cè)試則是用來(lái)測(cè)試插頭零相線與地線的絕緣情況。

具體針對(duì)某個(gè)行業(yè)的產(chǎn)品而言，EMC項(xiàng)目的數(shù)量可能會(huì)有所不同。對(duì)于我們之前從事的低壓電器，EMC項(xiàng)目并不是很多，但我們的主要項(xiàng)目都已經(jīng)覆蓋了。主要的項(xiàng)目包括快速脈沖群測(cè)試、輻射抗擾度測(cè)試、浪涌測(cè)試、傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試、抗磁場(chǎng)干擾測(cè)試以及靜電放電測(cè)試等。