一、傳導(dǎo)干擾（CE）傳導(dǎo)發(fā)射也稱為騷擾電壓測試。無論是直流供電產(chǎn)品還是信號/控制線，只要有電源線的產(chǎn)品都會涉及到傳導(dǎo)發(fā)射測試。同時(shí)，插入損耗測試也屬于傳導(dǎo)測試范疇。

二、傳導(dǎo)發(fā)射測試標(biāo)準(zhǔn)包括：

- ITE：CISPR22, EN55022, GB9254

- 家電和工具：CISPR14-1, EN55014-1, GB4343

- AV：CISPR13, EN55013, GB13837

- 燈具：CISPR15, EN55015, GB17743

- ISM：CISPR11, EN55011

- 其他標(biāo)準(zhǔn)：EN61326, EN60601-1-2, EN301489, PART 15, PART 18, YY0505, GB/T 18268, GB 4824

三、CE傳導(dǎo)發(fā)射抗干擾測試的方法：

1) 測試儀器和設(shè)備包括接收機(jī)、LISN、模擬手、被動電壓探頭、電流探頭、CDN、DIA等。同時(shí)需要使用PC，其中DIA需遵循CISPR16-1-1要求，其他輔助設(shè)備需遵循CISPR16-1-2要求。

2) 測試布置分為分臺式和落地式。臺式設(shè)備離LISN距離為80cm，離接地平板距離為40cm。落地式設(shè)備根據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn)有不同的偏差允許，例如CISPR14-1和15為10cm +/- 25%，CISPR13為up to 12mm，CISPR22為up to 15cm。輔助設(shè)備的布置也因測試標(biāo)準(zhǔn)不同而有所差異，例如CISPR22中輔助設(shè)備離主設(shè)備10cm，相互之間的互聯(lián)線至少離接地平板40cm。手持II類設(shè)備需要包模擬手，自鎮(zhèn)流熒光燈需罩在輔助錐形金屬罩里。

3) 測試頻段一般為150kHz-30MHz，但CISPR15為9kHz-30MHz的騷擾電壓和150kHz-1,605kHz的插入損耗。

4) 測試限值根據(jù)不同標(biāo)準(zhǔn)和產(chǎn)品分類（Group 1/2, Class A/B）有所不同。

5) 測試過程包括：

a) 交/直流電源端騷擾電壓測試：將電源插頭連接到LISN上，接收機(jī)RF輸入連接到LISN的RF輸出（可能需要插入RF衰減器或脈沖限幅器），通過切換LISN的L/N開關(guān)選擇測試電源線的對地共模騷擾電壓。

b) 斷續(xù)干擾測試：根據(jù)CISPR14-1和其他標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行。通常使用斷續(xù)干擾分析儀與LISN配合進(jìn)行測量，也可以用示波器和接收機(jī)組合替代。示波器用于觀察騷擾持續(xù)時(shí)間，接收機(jī)用于觀察騷擾電平幅度。

c) 負(fù)載端騷擾電壓測試：根據(jù)CISPR14-1、CISPR15和CISPR11的要求進(jìn)行。使用被動電壓探頭，將需要測量的負(fù)載線絕緣剝開，直接連接探頭到負(fù)載線導(dǎo)線端子對地的騷擾電壓上。如果設(shè)備額定電流過大，沒有合適的LISN可用，也可以直接用電壓探頭來測量電源端的騷擾電壓。

d) 通訊線騷擾電壓/騷擾電流的測試標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)CISPR22的規(guī)定進(jìn)行。不同類型的通訊線需要使用不同的測試方法。Annex C中詳細(xì)描述了這些方法，Annex F對各種方法進(jìn)行了優(yōu)缺點(diǎn)分析。測試主要是通過使用電流探頭、通用串?dāng)_裝置（CDN）、150歐姆接地電阻和容性電壓探頭的不同組合來測試各種類型的通訊線纜。測試之前需要確保測試線纜的對地阻抗為150歐姆。測試結(jié)果可以直接用騷擾電流的dBuA值表示，也可以換算成騷擾電壓的dBuV值表示，換算時(shí)考慮到兩者之間的阻抗差異，相差44dB。

e) 插入損耗是根據(jù)CISPR15的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測量的。測試過程依靠使用射頻正弦波發(fā)生器，并經(jīng)過平衡/不平衡轉(zhuǎn)換器、模擬燈和線間射頻信號取樣網(wǎng)絡(luò)（LISN）來測量插入損耗的數(shù)值。較后使用接收機(jī)來測量并比較電壓值。

四、傳導(dǎo)干擾發(fā)射的結(jié)果判定條件如下：接收機(jī)檢波器的測量值（使用QP/AV參數(shù)）與限制線進(jìn)行比較，如果低于限制線，則測試結(jié)果為PASS，如果高于限制線，則測試結(jié)果為FAIL。