1. 電磁騷擾測(cè)試（EMI，Electro-Magnetic Interference）的目的是為了檢測(cè)電器產(chǎn)品所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)人體、公共電網(wǎng)以及其他正常工作的電器產(chǎn)品的影響。EMI測(cè)試主要包括以下內(nèi)容：

- 輻射騷擾測(cè)試（Radiated Emission）

- 傳導(dǎo)騷擾測(cè)試（Conducted Emission）

- 諧波電流騷擾測(cè)試（Harmonic）

- 電壓變化和閃爍測(cè)試（Flicker）

2. 電磁抗擾度測(cè)試（EMS，Electro-Magnetic Susceptibility）的目的是為了檢測(cè)電器產(chǎn)品是否能在電磁環(huán)境中穩(wěn)定工作，不受影響。EMS測(cè)試主要包括以下內(nèi)容：

- 靜電抗擾度測(cè)試（ESD）

- 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試（RS）

- 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試（CS）

- 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試（DIP）

- 浪涌（沖擊）抗擾度測(cè)試（SURGE）

- 電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試（EFT）

- 工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試（PFMF）

雜散的定義是指在用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)調(diào)制時(shí)，在除載頻和由于正常調(diào)制和切換瞬態(tài)引起的邊帶及鄰道以外離散頻率上的輻射（即遠(yuǎn)端輻射）。雜散輻射可分為傳導(dǎo)型和輻射型兩種，其中：

- 傳導(dǎo)雜散是指在天線的接頭處50歐姆負(fù)載上測(cè)得的任意離散信號(hào)的電平功率。

- 輻射雜散是指測(cè)試設(shè)備的機(jī)殼、結(jié)構(gòu)以及互連電纜引起的雜散騷擾。這些測(cè)試通常會(huì)在電波暗室內(nèi)或戶外進(jìn)行。